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高加速壽命測試HAST

分類：測試服務
發布時間：2022-05-18 17:12:44
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概要:

詳情

　　1、項目介紹

　　高加速的溫度和濕度壓力測試（HAST）是一個高度加速，以溫度和濕度為基礎的電子元件可靠性試驗方法。HAST也稱為壓力測試（PCT）或不飽和壓力試驗（USPCT）。其目的是評估測試樣本，通過將試驗室中的水蒸汽壓力增加到一定的耐濕性。比試樣內部的部分水蒸汽壓力高得多。這個過程暫時加速水分滲入樣品中。勝科納米主要進行UBHAST（非偏壓高速壽命試驗）及BHAST（高加速溫濕度及偏壓測試）。

實驗目的：評估IC產品在偏壓，高溫，高濕，高氣壓條件下對濕度的抵抗能力，加速其失效過程。

測試條件：130℃，85%RH，1.1VCC，Static bias，230Kpa 96H

110℃，85%RH，1.1VCC，Static bias，122Kpa 264H

失效機制：分層、電離腐蝕、電性能開/短路、封裝密封性

失效原因：

（1）因為焊盤被腐蝕造成線路開路

（2）因為吸潮或離子遷移造成短路或漏電

（3）PN結電阻增加，造成的電流漂移

改善措施：

（1）提高EMC和PCB之間的粘結力

（2）選用低吸濕性的EMC，高粘結力的EMC

參考標準：JESD22-A110/A118)