測試服務
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能量色散X射線光譜儀EDX
- 分類：測試服務
- 發布時間：2022-05-18 16:27:50
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概要:
詳情
1、項目介紹：
EDX是借助分析樣品發出的元素X射線波長和強度，根據波長測定樣品所含的元素，根據強度測定元素的相對含量。Talos Dual-X SDD: 2個EDX探頭，快速成像，高分辨。
Dual-X的EDX收集效率更高
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EDS system |
Super-X |
Dual-X |
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Full solid angle |
0.9 srad |
2.56 srad |
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Effective solid angle* |
0.9 srad |
1.65 srad |
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Detectors |
4 SDD, 內置式設計 | 2 large SDD, 伸縮式設計 |
2、應用優勢：
大面積、高分辨率的HAADF STEM和EDS繪圖實例，使用”Dual-X”探測器。
樣品：金鎳納米顆粒，采集時間<1min。
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0512-62800006
sales-cn@wintech-nano.com
