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微光顯微鏡EMMI
- 分類：測試服務
- 發布時間：2022-05-18 15:46:19
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概要:
詳情
1、項目定義：
EMMI微光顯微鏡又稱PEM、InGaAs或CCD，是通過觀察芯片漏電引起微弱的發射，確定漏電位置，幫助進行故障分析，是多層金屬線芯片、LOC結構、倒裝芯片和CSP等，集成電路芯片正面、背面分析必不可少的技術。
2、應用優勢：
勝科納米正面、背面EMMI集成一個紅外焦距顯微鏡，實現了1024*1024像素的高分辨率InGaAs探頭，穿透1mm芯片背面成像，IROM背景疊加定位，可以在紅外波長區域以高度靈敏檢測到非常微弱的發射，正面背面都可以定位，板子上的芯片開封后可以直接做定位，幫助客戶檢測IV曲線漏電漂移。
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